简介
科宇系统代理国外半导体与光电产业使用的专业量测分析设备，包括湿制程浓度分析，材料表面分析与探针量测，触控面板AOI检查机台。
PEMTRON Corp
3D Nano-Profiling System白光干涉表面轮廓仪
SEMART SS-100 SEM 扫描式电子显微镜
Touch Panel ITO Inspection system 触控面板ITO缺陷检查机台
TROI 3D Solder Paste Inspector PCB锡膏检查机
CI-SEMI
WetSpec Real time multi channel concentration monitor
湿制程多通道即时浓度监测系统
Probing Solutions Inc. PSI
Probe Stations/晶圆探针台
Photomasks Inspection/review station/光罩显微检验机台
4 Dimensions Inc.
CV Mapping system电容-电压量测系统 C-V, I-V, Q-V...
4 point probes 四点探针阻值量测系统
Sheet Resistance 片电阻量测 PV ITO Wafer mapping
Jandel Probe Heads for CDE, KLA, 4D and others 4 point probes system
Kernel System Overlay Analyses Software
HiROX 3D Digital Microscope System
配送及付款方式
主要服务地区：台湾北部, 台湾中部, 台湾南部, 台湾东部
联络资料
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业务联络手机：0936-876545
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